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上一篇文章內(nèi)容回顧：藝術(shù)品檢測分析技術(shù)手冊-3
X射線照相術(shù) 米爾科 ?登菜烏 ( Miko den Leeuw)X射線照相術(shù)（X-radiooraphy）屬于非侵入式成像技術(shù)。它利用的X射線屬于電磁頻譜中非可見光波段。大部分X射線的波長介于 0.01~10 nm。X射線照相術(shù)是一種成像技術(shù)，是用X射線穿透置于活動支架上的藝術(shù)品或文物來進(jìn)行檢測。X 射線對顏料層和支撐體的穿透程度因被照射材料的原子量而異。原子量低的材料容易使X射線通過，因此在X射線膠片上顯示為黑色，而原子量高的材料會阻擋 X射線，在膠片上顯示為白色。X 射線照相術(shù)是對物體整體（表面和內(nèi)部）結(jié)構(gòu)進(jìn)行視覺感知的基本方法。X射線照相術(shù)用于顯示顏料層的底層結(jié)構(gòu)，如底稿層的修改、后期的構(gòu)圖修改和顏料層厚度的變化；X射線照相術(shù)可提供有關(guān)歷史修復(fù)的信息，以及繪畫支撐體保存狀況與細(xì)節(jié)的信息；X射線照相術(shù)可有效地觀察帶有刻劃線的，或顏料中含有高原子量元素的底層素描。此外，它還可以揭示與藝術(shù)家技法和（或）工作方法有關(guān)的信息不過只有在某些材料或色塊中含有較重元素（如鉛、汞和銅）的情況下才能實(shí)現(xiàn)。再有，X射線照相術(shù)可對較重元素進(jìn)行初步鑒定，但不可能做精確鑒定。最后，X射線照相術(shù)也非常適用于對木質(zhì)載體的研究，因?yàn)樗梢燥@露木材紋理。X射線照相術(shù)的一個(gè)缺點(diǎn)是無法獲得深度分辨信息。當(dāng)一幅畫上同時(shí)疊壓著兩層或兩層以上不同構(gòu)圖的繪畫層時(shí)，它的X射線圖像就會變得不易解讀。在這種情況下X射線照相術(shù)應(yīng)配合其他可視化技術(shù)（如紫外照相術(shù)和紅外照相術(shù)）使用。X射線照相術(shù)要依靠輕元素與重元素的反差，因此調(diào)和而成的混合顏料和顏料層的薄厚變化會增加X射線照相術(shù)解讀的復(fù)雜性。盡管通過X射線照相術(shù)可以區(qū)分輕元素和重元素，但這種技術(shù)永遠(yuǎn)無法實(shí)現(xiàn)元素的精確鑒定。晝光照相術(shù)、紫外照相術(shù)、紅外照相術(shù)、紅外假彩色照相術(shù)、紅外透射照相術(shù)、X射線熒光成像、K-edge 成像以及同步輻射 X射線熒光成像。6.技術(shù)規(guī)范與注意事項(xiàng)威廉?倫琴(Wihelm Rontgen）于 1895年發(fā)現(xiàn)X射線。這項(xiàng)技術(shù)最早用于繪畫研究是在 20 世紀(jì)初，當(dāng)時(shí)有多個(gè)研究團(tuán)隊(duì)開始探索為繪畫拍攝X射線圖像的系統(tǒng)性方法。[1] Morrin B., E. Martin, E. Laval, ''Raphael''s Paintings in French museums: Some New Results from Recent Technical Investigations'', Raphael''s Painting Technique: Working Practices before Rome, Proceedings of the EU-ARTECH Workshop London, November 2004, pp. 13-24. (2007)[2] Plazzotta C., M. O''Malley, A. Roy, R. White, M. Wyld, ''The Madonna di Loreto: An Altarpiece by Perugino for Santa Maria dei Servi, Perugia'', The National Gallery Technical Bulletin 27, pp. 72-95. (2006)[3] Oliver L., F. Healy, A. Roy, R. Billinge, The Evolution of Rubens''s Judgement of Paris (NG 194)'', The National Gallery technical Bulletin 26, pp. 4-22. (2005)[4] Sister Daniilia, A. Doussi, The Iconography of the School of Galatista, Municipal Library of Thessaloniki, Reprotime, Thessaloniki. (2005)[5] Mairinger F, ''UV-, IR- and X-ray imaging'', in Non-Destructive Microanalysis of Cultural Heritage Materials Volume XLII, pp. 15-66. (2004)[6] Papaggelos I., A. Strati, Sister Danilia, The Hidden Beauty of Icons, Athens: Indiktos Publications. (2004)[7] Roy A., M. Spring, C. Plazzotta, ''Raphael''s Early Work in the National Gallery: Paintings before Rome'', The National Gallery Technical Bulletin 25, pp. 4-35. (2004)[8] Sister Daniilia, S. Sotiropoulou, D. Bikiaris, C. Salpistis, G. Karagiannis, Y. Chryssoulakis, ''Diagnostic Methodology for the examination of Byzantine Frescoes and Icons''. (2004)[9] Sister Daniilia, Sophia Sotiropoulou, Dimitrios Bikiaris, Christos Salpistis, Georgios Karagiannis and Yannis Chryssoulakis ''Diagnostic methodology for the examination of Byzantine frescoes and icons. Nondestructive Investigation and Pigment Identification'', in Non-Destructive Microanalysis of Cultural Heritage Materials Volume XL, pp. 565- 604. (2004)[10] Padfield J., D. Saunders,J. Cupitt, R. Atkinson, ''Improvements in the Acquisition and Processing of X-ray Images of Paintings'', The National Gallery Technical Bulletin 23, pp. 62-75. (2002)[11] Sister Danilia, Sister Maximi, I. Papaggelos, A. Strati, D. Bikiaris, S. Sotiropoulou, G Karagiannis, C. Salpistis, Y. Chryssoulakis, ''Ormylia Art Diagnosis Centre. Our Lady of Mercy: The Adventures of an Icon'', Journal of Zeitschrift Fur Kunsttechnologie und Konservierung 16 (2), pp. 336-351. (2002)[12] Roy A., ''Rubens''s "Peace and War", The National Gallery Technical Bulletin 20, pp. 89-95. (1999)[13] Gilardoni A., R. Ascani Orsini, S. Taccani, X-rays in Art, Como: Mandella Lario. (1977) [14] Faber A., ''Eine neue Anwendung der R?ntgenstrahlen, Die Umschau 18 (12), pp. 246-253. (1914)K-edge 成像 米爾科 ? 登萊烏 ( Miko den Leeuw) K-edge 成像（K-edge imaging）屬于非侵入式成像技術(shù)。它利用的X射線屬于電磁頻譜中非可見光波段。K-edge 成像是基于同步輻射的技術(shù)。同步輻射波幾乎可覆蓋整個(gè)電磁頻譜K-edge 成像使用單色儀把這種多色輻射調(diào)諧到一個(gè)特定的波長，以實(shí)現(xiàn)對一種單物質(zhì)（顏料）的可視化?？捎肒edge 成像對繪畫進(jìn)行掃描，以映射個(gè)別元素的分布，從而實(shí)現(xiàn)特定顏料分布的可視化。K-edge 成像可用不同的圖像分別顯示不同種繪畫顏料的分布。它的圖像會顯示一種顏料粉在畫面上出現(xiàn)的所有位置，包括量少的部位。這種技術(shù)的成像相對快速，圖像質(zhì)量和分辨率也較高。此外，K-edge 成像可以檢測被較重元素包圍的較輕元素（顏料粉）。K-edge 成像可以顯現(xiàn)藝術(shù)家的筆法和顏料調(diào)和方式，因此可利用它窺視藝術(shù)家的創(chuàng)作方法和技法。K-edge 成像尤其適于研究多層的繪畫（包括雙重構(gòu)圖）。在繪畫中不同層使用了不同顏料的情況下，可用這項(xiàng)技術(shù)檢測出畫面從底層到表層的變化。K-edge 成像可檢測無鉛繪畫的龜裂紋理。此外，它還可以提供隱藏繪畫層的狀態(tài)信息，并顯現(xiàn)隱藏層的龜裂。K-edge 成像不能區(qū)分元素（顏料）在顏料層中的確切深度，因此需要配合補(bǔ)充技術(shù)使用。Kedge 成像無法檢測到吸收能量在 5~20 keV 范國內(nèi)發(fā)光的元素，這就意味著無法用它檢測顏料中一些有用的元素，如鉻和鋅。K-edge 成像所需的設(shè)備使用成本很高，是一項(xiàng)昂貴的技術(shù)。晝光照相術(shù)、紫外照相術(shù)、紅外照相術(shù)、紅外反射成像、紅外假彩色照相術(shù)、X射線熒光成像、X射線照相術(shù)以及同生輻射 X 射線熒光成像。6. 技術(shù)規(guī)范與注意事項(xiàng)K-edge 成像起源于醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，首次應(yīng)用于 1984年，同年，E． 巴里?休斯(E.Barie Hughes )等申請了這項(xiàng)技術(shù)的專利。最先發(fā)表藝術(shù)品檢測領(lǐng)域K-edge 成像應(yīng)用的是米爾科 ?登萊烏 ( Milko den Leeuw ） 喬里斯 ? 迪克 (Joris Dik ）克里斯蒂安 ?內(nèi)莫 (Christian Nemoz）保拉?科安（Paola Coan）和阿爾貝托 ?布拉文(Alberto Bravin).[1] Bertrand B., F. Esteve, H. Elleaume, C. Nemoz, S. Fiedler, A. Bravin, G. Berruyer, T Brochard. M. Renier. J. Machecourt, W. Thomlinson,J. Le Bas, Eur. Heart J. 26(1284). (2005)
[2] Bravin A.,J. Dik, M. den Leeuw, ''A New technique in X-ray imaging using synchrotron radiation'', poster presented at the 14th Meeting of the International Council of Museum/Conservation Committee, The Hague. (2005)
[3] Bravin A., J. Dik, K. Krug, M. den Leeuw, ''A New X-ray Method for Painting Studies'', Zeitschrift für Kunsttechnologie und Konservierung 19, pp. 315-322. (2005)
[4] Elleaume H., A. Charvet, P. Berkvens, G. Berruyer, T. Brochard, Y. Dabin, M. Dominguez, J. Adam, C. Nemoz, A. Bravin, S. Fiedler, S. Bayat, S. Monfraix, G. Berruyer, A. Charvet, J. Le Bas, H. Elleaume, F. Esteve, J. Cereb. Blood Flow Metab. 25 (145). (2005)
[5] Keyrilainen J., M. Fernandez, S. Fiedler, A. Bravin, M. Karjalainen-Lindsberg, P.Virkkunen, E. Elo, M. Tenhunen, P. Suortti, W. Thomlinson, Eur. J. Radiol. 53 (226). (2005)
[6] Monfraix S., S. Bayat, L. Porra, G. Berruyer, C. Nemoz, W. Thomlinson, P. Suortti. A Sovijarvi, Phys. Med. Biol. 50(1). (2005)
[7] Baldelli P., M. Gambaccini, M. Milazzo, F. Petrucci, M. Scotti, Preprint Eur. Conf. X-rav Spectrometry, p. 22. (2004)
[8] Biston M., A. Joubert,J. Adam, H. Elleaume, S. Bohic, A. Charvet, F. Esteve, N. Foray, N. Balosso, J. Cancer Res. 64 (2317). (2004)
[9] Den Leeuw M., J. Dik, C. Nemoz, P. Coan, A. Bravin, ''Using. XRF and Dual Energy K-edge Absorption Imaging in the Study of Paintings'', Proceedings of the International Workshop on ''Inter-disciplinarity in nondestructive testing of museum objects'', pp. 45-48. (2004)
[10] Le Due G., S. Corde, A, Charvet, H. Elleaume, R. Farion, J, Le Bas, F, Esteve, Invest. Radiol. 39 (85). (2004)
[11] Draperi D., S. Fiedler, G. Goujon, G. Le Due, M. Mattenet, C. Nemoz, M. Perez, M Renier, C. Schulze, P. Spanne, P. Suortti, W. Thomlinson, F. Esteve, B. Bertrand, J. Le Bas, Nucl. Instrum. Methods A, 423 (514). (1999)
[12] Hughes E., E. Rubenstein, R. Hofstadter, ''Method and means for minimally invasive angiography using mono-chromatized synchrotron radiation'', U.S. Patent 4432370.(1984)
[13] Jacobson B., Acta Radiol. 39 (437). (1953)
[14] Moniz E., Presse Med, 35 (969). (1927)
未完待續(xù)......
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技術(shù)咨詢服務(wù)包括：北京高?？萍假Y源對接、危險(xiǎn)廢棄物梳理、環(huán)境影響評價(jià)、環(huán)保項(xiàng)目竣工驗(yàn)收、場地環(huán)境調(diào)查等多個(gè)領(lǐng)域。開展的分析測試服務(wù)包括：X射線衍射分析、土壤礦物檢測、水質(zhì)檢測、場地環(huán)境檢測、二噁英檢測、建材VOC檢測、固廢檢測、理化參數(shù)等檢測項(xiàng)目，已取得CMA檢驗(yàn)檢測機(jī)構(gòu)資質(zhì)認(rèn)定和ISO/IEC 17025檢測實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可資質(zhì)。科學(xué)儀器研發(fā)方面：具備國內(nèi)領(lǐng)先的 X 射線衍射 / 熒光分析儀器的研發(fā)生產(chǎn)能力，在 X 射線分析儀器的開發(fā)領(lǐng)域擁有多項(xiàng)自主知識產(chǎn)權(quán)。單位先后通過北京市級企業(yè)科技研究開發(fā)機(jī)構(gòu)、高新技術(shù)企業(yè)、中關(guān)村高新技術(shù)企業(yè)等認(rèn)證。 若您有任何咨詢問題，可聯(lián)系我們，我們會為您解答。咨詢電話：400-0064-028 、010-62423361
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