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上一篇文章內(nèi)容回顧:藝術(shù)品檢測分析技術(shù)手冊-1
米爾科·登萊烏 (Milko den Leeuw)紅外反射成像( infrared reflectography,IRR)屬于非侵入式成像技術(shù)。它利用的紅外線屬于電磁頻譜中非可見光波段。紅外線可穿透顏料,穿透深度因顏料層厚度、顏料成分和入射紅外線的波長而異。波長較大的波可以穿透大多數(shù)顏料層,但會被富碳材料吸收。IRR 與紅外照相非常相似,但是它們對反射射線的收集方式不同,因此它們的探測極限也不同。IRR用的是 InGaAs 探測器,探測波長較長,對波長高達1700nm的紅外線也非常敏感,能穿透紅外照相無法穿透的綠色和藍色顏料層。IRR特別適用于繪畫底層素描和底稿的檢測。底層素描或底稿可以顯露到什么程度,取決于該層富碳顏料的含量、上方覆蓋的顏料層厚度、顏料層中顏料粉的類型以及底料層的顏色。因此,這項技術(shù)可提供的信息包括繪畫的結(jié)構(gòu)、畫家的技法以及繪畫的歷史修復(fù)和歷史狀況信息。反射圖是由一幅畫不同層位的信息集成的二維圖像,因此無法分辨一幅畫中每個細節(jié)的層位深度。這項技術(shù)在收集信息方面的效果也受畫中吸收或反射紅外線的材料所限,這些材料可能會妨礙目標(biāo)區(qū)域的成像。鐵基墨水素描可能也很難檢測,因為鐵基墨水不能有效吸收紅外線。此外,顏料層越厚就越難被紅外線穿透,因此底層的成像也受顏料層厚度的限制。反射設(shè)備也會為檢測帶來局限性,它可能會造成光學(xué)失真和幾何變形,生成的圖像通常還需進行后期處理,這也可能會導(dǎo)致錯誤。晝光照相術(shù)、紫外照相術(shù)、紅外照相術(shù)、紅外假彩色照相術(shù)、X射線照相術(shù)、X射線熒光成像、K-edge 成像以及同步輻射X射線熒光成像。第二次世界大戰(zhàn)后出現(xiàn)了多種類型的紅外設(shè)備,但直到20 世紀(jì)60年代,才開始有研究團隊用 IRR 作為底層素描檢測的主要技術(shù),第一個應(yīng)用這項技術(shù)的是布魯塞爾皇家文化遺產(chǎn)研究所(KIK-IRPA )。1968年,格羅寧根的J.R.J.范阿斯佩倫 ? 德布爾 (J.R.J.van Asperen de Boer )和阿姆斯特丹的霍弗特 ?庫伊曼 ( Govert Kooiman)在這項技術(shù)的進一步發(fā)展中起到了關(guān)鍵作用,他們的工作為今天的許多應(yīng)用奠定了墓礎(chǔ)。[1] Delaney J.K, M. Thoury, J.G. Zeibel, P. Ricciardi, K.M. Morales, K.A. Dooley, Visible and Infrared Imaging Spectroscopy of Paintings and Improved Reflectography.Heritage Science 4 (6), pp. 1-10. (2016)[2] Rosi F., C. Miliani, R. Braun, R. Harig, D. Sali, B. Brunetti, A. Sgamellotti, ''Non-invasive Analysis of Paintings by Mid-infrared Hyperspectral Imaging'', Angewandte Chemie 52(20), pp. 5366-5369. (2013)[3] Fontana R., D. Bencini, P. Carcagni, M. Greco, M. Materazzi, E. Pampaloni, L. Pezzati,"''Multi-spectral IR Reflectography'', Proceedings of SPIE 6618 (1). (2007)[4] Verougstraete H., J. Couvert, La Peinture Ancienne et ses Procedes, Louvain et Bruges: Peters Publishers. (2006)[5] Marras L., M. Materazzi, L. Pezzati, P. Poggi, ''A New High Resolution IR-color Scanner for Non-destructive Evaluation of Works of Art'', Insight 45 (4), pp. 276- 279. (2003)[6] Bomford D. (ed.), Art in the Making: Underdrawings in Renaissance Paintings, London: National Gallery. (2002)[7] Galassi M.C., Il Disegno Svelato: Progetto e Immagine nella Pittura Italiana del Primo Rinascimento, Nuoro: Ilisso. (1998)[8] Walmsley E., C. Metzger, J.K. Delaney, C. Fletcher, ''Improved Visualization of Underdrawing with Solid State Detector Operating in the Infrared'', Studies in Conservation 39 (4), pp. 217-231. (1994)[9] Walmsley E., C. Fletcher, J.K. Delaney, ''Evaluation of System Performance of Near-infrared Imaging Devices'',Studies in Conservation 37 (2), pp. 120-131. (1992)[10] Bertani D., M. Cetica, P. Poggi, G. Puccioni, E. Byzzegoli, D. Kunzelman, S. Cecchi, ''A Scanning Device for Infrared Reflectography'', Studies in Conservation 35 (3), pp. 113-116. (1990)[11] Van Asperen de Boer J..J., ''Reflectography of Paintings Using an Infrared Vidicon Television System'', Studies in Conservation 14 (3), pp. 96-118. (1969)[12] Van Asperen de Boer ''Infrared Reflectography: A Method for the Examination ol Paintings'', Applied Optics 7 (9), pp. 1711-1714. (1968)[13] Wehlte G., ''Gem?ldeuntersuchung im Infrarot'', Maltechnik 61, pp. 52-58. (1955)
米爾科·登萊烏 (Milko den Leeuw)
1. 分類
紅外假彩色照相術(shù) (false color infrared photography, IRFC) 屬于非侵入式成像技術(shù)。它所利用的紅外線屬于電磁頻譜中非可見光波段。
2. 說明
IRFC 是將紅外照相與可見光照相疊加,形成合成圖像的技術(shù)。因為合成圖像的色彩波長并不是真的落在紅外譜段內(nèi),所以這種圖像被稱作紅外假彩色照相。
3. 應(yīng)用
IRFC 可用于研究藝術(shù)品的表面或次表面??赡茉诩t外假彩色照相中得到顯現(xiàn)的對象包括原作光油(如有)、顏料粉和顏料黏結(jié)劑、罩染層,以及后期光油等其他結(jié)膜材料。當(dāng)兩個色塊在可見光下顏色相似,但構(gòu)成材料不同,且兩種材料會反射不同波長的紅外線時,就可以用 IRFC 將它們分辨出來。這種技術(shù)有時也能鑒定特定品種的顏料粉,例如,可以用它來識別和區(qū)分不同類型的紅色色淀顏料粉,不過無法對發(fā)色團進行全面的表征。
4. 局限性
IRFC 區(qū)分和辨識對象的能力會受到材料濃度與純度的影響,因為某些材料和混合顏料粉會在紅外假彩色照相中呈現(xiàn)相似色調(diào)??梢姽庀骂伾嗤?,旦紅外反應(yīng)相似的顏料粉(例如幾種紅色顏料粉)可能很難用這種技術(shù)進行區(qū)分。IPFC 能夠辦識的有機顏料粉僅限于 某些特定品種紅色色淀。因此在解讀紅外假彩色照相 (尤其是以鑒定顏料粉為目的的解讀)時,必須考慮以上因素。
5. 補充技術(shù)
晝光照相術(shù)、紫外照相術(shù)、紅外照相術(shù)、紅外反射成像、紅外透射照相術(shù)、X射線照相術(shù)、X射線茨光成像、K-edge 成像以及同步輻射X 射線茨光成像。
6. 技術(shù)規(guī)范與注意事項
相機/設(shè)備
鏡頭
曝光時間
感光度 (ISO)
光源
濾鏡
7. 技術(shù)簡史
IRFC最早由柯達公司的沃爾特 ? 克拉克 ( Walter Clark )手 20 世紀(jì)40 年代開發(fā),最初用于假目標(biāo)探測。隨著柯達埃克塔克羅姆紅外航空膠卷 ( Kodak Ektachrome Intrared Aero Film )問世,IRFC 也在60年代開始有了普及型應(yīng)用,不過直到 90年代初,隨著數(shù)碼攝影的發(fā)展,它才被廣泛應(yīng)用于藝術(shù)研究。
8. 文獻
[1] Aldrovandi A., M. Picollo, Metodi di Documentazione e Indagini Non Invasive Sui Dipinti, Padova: Il Prato. (1999)[2] Aldrovandi A., R. Bellucci, D, Bertani, E. Buzzegoli, M. Cetica, D. Kunzelman, ''La Ripresa in Infrarosso Falso Colore: Nuove Tecniche di Utilizzo'', OPD Restauro 5, pp.94-98. (1993)[3] Burmester A., F. Bayerer, Towards Improved Infrared Reflectograms'', Studies in Conservation 38, pp. 145- 154. (1993)[4] Saunders D., J. Cupitt, VASARJ Project'', National Gallery Technical Bulletin 14, pp. 72-85. (1993)[5] Moon T., M.R. Schilling, S. Thirkettle, ''A Note of the Use of False-color Infrared Photography in Conservation'', Studies in Conservation 37, pp. 42-52. (1992)
米爾科·登萊烏 (Milko den Leeuw)
1. 分類
紅外透射照相術(shù) (transmitted infrared photography,IRT)屬于非侵入式成像技術(shù)。它利用的紅外線屬于電磁頻譜中非可見光波段。
2. 說明
IRT 與紅外照相術(shù)以及紅外反射成像非常相似,它們之間的主要區(qū)別在于,使用這種技術(shù)時,光源需設(shè)于藝術(shù)品后面,而非前面。這種技術(shù)只能用于支撐體為紅外半透材質(zhì)(如畫布或紙張)的作品。FT 用的是 IinGaAs 探測器,可探測波長較長,對波長高達 1700 nm 的紅外線都非常敏感。
3. 應(yīng)用
IRT 所用的紅外線波長較長,可穿透顏料層,但會被富碳材料吸收,因此尤其適用于檢測繪畫的底層素描、底稿和原底痕。由于光源與探測器設(shè)置方位的優(yōu)勢,紅外透射法比紅外反射法做的底層素描和底稿成像更為清晰。當(dāng)畫上存在鉛白或鈦白之類強反射性顏料粉時,IRT 的效果尤其出色,因為這些顏料會增強底料和底層素描間的反差。這種分析可提供與繪面結(jié)構(gòu)、畫家技法及繪畫狀況有關(guān)的信息。IRT 可用來探測被底料覆蓋的畫布商標(biāo)和其他標(biāo)記,這類對象往往很難用紅外反射成像檢測,因為底料的強反光會使它們模糊難辨。
4. 局限性
IRT 只能用于紅外半透明支撐體(如畫布)的作品,因為紅外線要能夠穿透支撐體才能被探測器接收。紅外透射圖像包含藝術(shù)品所有層位的數(shù)據(jù),無法辨別個別細節(jié)的深度。此外,繪畫支撐體會造成紅外線散射,因此紅外透射圖像可能會失真。盡管這項技術(shù)長于探測暗色(尤其是富碳物質(zhì)),卻很難探測鐵基墨水素描,因為鐵基墨水無法有效地吸收紅外線。
5. 補充技術(shù)
晝光照相術(shù)、紫外照相術(shù)、紅外照相術(shù)、紅外反射成像、紅外假彩色照相術(shù)、X射線照相術(shù)、X射線熒光成像、K-edge 成像以及同步輻射X射線熒光成像。
6. 技術(shù)規(guī)范與注意事項
相機/設(shè)備
鏡頭
曝光時間
感光度(ISO)
紅外探測器
紅外光源
濾鏡
7. 技術(shù)簡史
1965年,威廉 ?J.揚(William J. Young)在波士頓的一次會議上首次提出可用IRT來研究畫布商標(biāo)和其他被底料覆蓋的信息。
8. 文獻
[1] Rosi F., C. Miliani, R. Braun, R. Harig, D. Sali, B. Brunetti, A. Sgamellotti, ''Non-invasive Analysis of Paintings by Mid-infrared Hyperspectral Imaging'', Angewandte Chemie 52(20), pp. 5366-5369. (2013)[2] Moutsatsou A., D. Skapoula, M. Douigeridis, ''The Contribution of Transmitted Infrared Imaging to Non- invasive Study of Canvas Paintings at the National Gallery Alexandras Soutzos Museum'', Greece, e-Conservation Magazine 22, pp. 53-61. (2011)[3] Verougstraete H., J. Couvert, ''La Peinture Ancienne et ses Procédés'', Louvain et Bruges: Peters Publishers. (2006)[4] Marras L, M. Materazzi, L Pezzati, P. Poggi, ''A New High Resolution IR-color Scanner for Non-destructive Evaluation of Works of Art'', Insight 45 (4), pp. 276- 279. (2003)[5] Bomford D. (ed.), ''Art in the Making: Underdrawings in Renaissance Paintings'' London: National Gallery. (2002)[6] Galassi M.C., ''II Disegno Svelato: Progetto e Immagine nella Pittura Italiana del Primo Rinascimento'',Nuoro:llisso.(1998) [7] Wehlte G., ''Gem?ldeuntersuchung im Infrarot'', Maltechnik 61, pp. 52-58. (1995)[8] Walmsley E., C. Metzger, J.K. Delaney, C. Fletcher, ''Improved Visualization of Underdrawing with Solid State Detector Operating in the Infrared'', Studies in Conservation 39 (4), pp. 217-231. (1994)[9] Walmsley E.: C. Fletcher, J.K. Delaney, ''Evaluation of System Performance of Near-infrared Imaging Devices'', Studies in Conservation 37 (2), pp. 120-131. (1992)[10] Kushel D.A., ''Applications of Transmitted Infrared Radiation to the Examination of Artifacts'', Studies in Conservation 30 (1), pp. 1-10. (1985)[11] Cornelius F.D, Transmitted Infrared Photography'', Studies in Conservation 22, p. 42 .(1977)[12] Muller N., ''Boston Canvas Stencils, Origin and Interpretation'', American Art Review 1 pp. 108-114. (1973)[13] Kodak, ''Applied Infrared Photography'', Rochester NY: Eastman Kodak Company.(1972)
未完待續(xù)......
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技術(shù)咨詢服務(wù)包括:北京高校科技資源對接、危險廢棄物梳理、環(huán)境影響評價、環(huán)保項目竣工驗收、場地環(huán)境調(diào)查等多個領(lǐng)域。開展的分析測試服務(wù)包括:X射線衍射分析、土壤礦物檢測、水質(zhì)檢測、場地環(huán)境檢測、二噁英檢測、建材VOC檢測、固廢檢測、理化參數(shù)等檢測項目,已取得CMA檢驗檢測機構(gòu)資質(zhì)認定和ISO/IEC 17025檢測實驗室認可資質(zhì)。科學(xué)儀器研發(fā)方面:具備國內(nèi)領(lǐng)先的 X 射線衍射 / 熒光分析儀器的研發(fā)生產(chǎn)能力,在 X 射線分析儀器的開發(fā)領(lǐng)域擁有多項自主知識產(chǎn)權(quán)。單位先后通過北京市級企業(yè)科技研究開發(fā)機構(gòu)、高新技術(shù)企業(yè)、中關(guān)村高新技術(shù)企業(yè)等認證。 若您有任何咨詢問題,可聯(lián)系我們,我們會為您解答。400-0064-028 、010-62423361