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《多晶X射線衍射技術(shù)與應(yīng)用》-21(第6章 粉末X射線衍射數(shù)據(jù)的不確定度)

發(fā)布時(shí)間:2022-06-24   來源:北達(dá)燕園微構(gòu)分析測試中心

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6.4 衍射儀衍射強(qiáng)度的測量誤差及其測量不確定度




6.4.1  概述

在討論衍射強(qiáng)度的不確定度之前,先詳細(xì)分析一下衍射儀X射線強(qiáng)度測量誤差的主要來源,應(yīng)有:

1. 取樣的代表性;

2. 由于樣品中晶粒取向的機(jī)遇性造成的衍射峰強(qiáng)度測值的誤差,具有隨機(jī)性;

3. 由于樣品中晶??赡艽嬖谝欢ǔ潭鹊膿駜?yōu)取向,影響相對強(qiáng)度的測量,具有隨機(jī)性;

4. 衍射儀(主要是其X射線光源和強(qiáng)度測量系統(tǒng))的穩(wěn)定度

5. 若強(qiáng)度測量系統(tǒng)的計(jì)數(shù)損失(漏計(jì))不可忽略,其造成系統(tǒng)誤差則需要對強(qiáng)度測值進(jìn)行修正;

6. 由于量子計(jì)數(shù)的統(tǒng)計(jì)漲落(自然起伏)造成的計(jì)數(shù)誤差,具有隨機(jī)性。

7. 數(shù)據(jù)處理過程中導(dǎo)入的誤差,如背景的扣除、重疊峰的分離、數(shù)值修約等都會導(dǎo)入衍射峰強(qiáng)度測值的誤差,與使用的處理方法以及操作者主觀上對峰形的判讀有關(guān)。


可見衍射強(qiáng)度的測量不確定度將來源于與誤差來源相應(yīng)的7個(gè)方面。

誤差來源的前3項(xiàng)與樣品準(zhǔn)備有關(guān),2、3兩項(xiàng)取決于樣品的粒度和樣品片的制作,在4.1節(jié)中已有詳細(xì)的闡述。為降低此環(huán)節(jié)中產(chǎn)生的強(qiáng)度測值的不確定度,應(yīng)該認(rèn)真遵循樣品準(zhǔn)備的要領(lǐng),特別是要注意滿足取樣的代表性要求、樣品粉末的粒度要求,制作樣品平面時(shí)應(yīng)該盡量避免晶粒產(chǎn)生取向。樣品制備過程是X射線強(qiáng)度測值不確定度的重要來源,有時(shí)甚至是主要來源。樣品制備環(huán)節(jié)諸因素對強(qiáng)度測量結(jié)果的影響表現(xiàn)為隨機(jī)因素??梢杂弥貜?fù)制樣、制作幾個(gè)上機(jī)樣品片、在同一時(shí)間段內(nèi)多次重復(fù)掃描評定測量結(jié)果的合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度,并設(shè)法估計(jì)出其它標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量,進(jìn)而估計(jì)出樣品制備環(huán)節(jié)中引入的標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量的大小。這樣估計(jì)出的制樣不確定度分量可以作為其它類似樣品的制備環(huán)節(jié)引起的標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量的經(jīng)驗(yàn)估計(jì)值。

第4、5兩項(xiàng)是設(shè)備因素。一般而言,現(xiàn)代衍射儀的X射線發(fā)生器及強(qiáng)度測量系統(tǒng)都有良好的穩(wěn)定性,特別是短期穩(wěn)定性(例如一、兩小時(shí)內(nèi)的穩(wěn)定性),其所導(dǎo)致的衍射強(qiáng)度的不確定度在評定衍射強(qiáng)度的合成不確定度時(shí)可以忽略。

第5項(xiàng)衍射儀強(qiáng)度測量系統(tǒng)的計(jì)數(shù)損失可以通過數(shù)據(jù)處理加以修正,也可以在計(jì)數(shù)電路中增加死時(shí)間校正電路。計(jì)數(shù)損失問題,一般在使用蓋革計(jì)數(shù)管的時(shí)候,需要重視。在評定衍射強(qiáng)度的合成不確定度時(shí)修正值的不確定度應(yīng)予計(jì)算。選擇動(dòng)態(tài)范圍寬的檢測器,選擇適當(dāng)?shù)墓庠磸?qiáng)度使樣品的最強(qiáng)衍射峰的強(qiáng)度不超過檢測器的動(dòng)態(tài)范圍,可以避免進(jìn)行計(jì)數(shù)損失的修正(3.2.4.1節(jié))。

第6項(xiàng)計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差,實(shí)際上并非一種測量誤差而是X射線量子發(fā)射在時(shí)間上隨機(jī)性的表現(xiàn)。即使是理想恒穩(wěn)強(qiáng)度的射線,其連續(xù)記錄的強(qiáng)度數(shù)據(jù)也是伴隨著無規(guī)則的、不等小幅度的、頻繁的起伏,是量子發(fā)射特征的一種表現(xiàn)。關(guān)于X射線強(qiáng)度統(tǒng)計(jì)誤差的理論是計(jì)算衍射強(qiáng)度數(shù)據(jù)固有不確定度的依據(jù),將在隨后的6.4.3節(jié)詳細(xì)的介紹。

第7項(xiàng)誤差所導(dǎo)致的測量不確定度,常是衍射強(qiáng)度數(shù)據(jù)測量不確定度中的較大或最大的分量。




6.4.2 計(jì)數(shù)損失及其修正 

當(dāng)計(jì)數(shù)速率很高時(shí),由于計(jì)數(shù)測量系統(tǒng)(主要是其檢測器的)分辨時(shí)間的限制,會造成計(jì)數(shù)損失。在使用蓋革計(jì)數(shù)管時(shí),這項(xiàng)誤差十分顯著,必須加以修正;但在使用正比計(jì)數(shù)管或閃爍計(jì)數(shù)器時(shí),它們的分辨時(shí)間很短,即使在計(jì)數(shù)率高達(dá)105量子/秒時(shí)這項(xiàng)誤差仍可忽略。但是對于更高的計(jì)數(shù)率,將會造成顯著的誤差,以至計(jì)數(shù)測量系統(tǒng)產(chǎn)生“阻塞”,導(dǎo)致衍射峰形不正常(如6.7節(jié)的示例圖)。

計(jì)數(shù)率真實(shí)值n與觀察值nG之間的非線性可按下式進(jìn)行修正:

(6.16)

τyx是計(jì)數(shù)測量系統(tǒng)的有效分辨時(shí)間,它取決于檢測器的分辨時(shí)間τ,此外還和與之配套的計(jì)數(shù)電路有關(guān)。如用于衍射儀的蓋革計(jì)數(shù)管的τ = 170微秒,τyx = 170微秒。而對于正比計(jì)數(shù)管、閃爍計(jì)數(shù)器或固體檢測器,這些檢測器的分辨時(shí)間<0.2微秒或更短(表1.2),則測量系統(tǒng)的有效分辨時(shí)間主要受與之配套的計(jì)數(shù)電路的制約,測量系統(tǒng)的線性范圍約在30~50×103cps。

利用上式進(jìn)行強(qiáng)度修正時(shí),對于峰高表示的強(qiáng)度容易實(shí)行;但若用于對積分強(qiáng)度進(jìn)行修正時(shí)則較難進(jìn)行,因?yàn)樾拚惦S計(jì)數(shù)率連續(xù)變化。不過對于蓋革計(jì)數(shù)管,在不太高的計(jì)數(shù)范圍內(nèi)(<800量子/秒),也可以近似地(±5%誤差)按線性處理,可令n = b×n,b由實(shí)驗(yàn)決定。

常用的計(jì)數(shù)測量系統(tǒng)非線性的校正方法是吸收片法。用一個(gè)合適的樣品,例如一片硅單晶切片,將檢測器對準(zhǔn)其衍射位置,然后在衍射光路中垂直插入一疊薄金屬片。這些金屬片應(yīng)該是均勻的、有相同厚度的,且平整、無皺褶、無孔隙等,亦即每一金屬片有相同的吸收率。常用鋁箔或鎳箔。插入金屬片的數(shù)目應(yīng)該使透射線的強(qiáng)度衰減至接近本底計(jì)數(shù),然后逐一抽出金屬片。每抽出一片,測量一次透射線的強(qiáng)度,直到金屬片抽完為止。透射線的強(qiáng)度顯然應(yīng)該隨金屬片數(shù)的減少而增加。將透射強(qiáng)度的對數(shù)對與之相應(yīng)的金屬片數(shù)目作圖,即可確定計(jì)數(shù)測量系統(tǒng)的計(jì)數(shù)線性范圍;此圖亦即計(jì)數(shù)測量系統(tǒng)計(jì)數(shù)值的校正曲線。

計(jì)數(shù)測量系統(tǒng)非線性的校正,也可以用“管流法”:用一個(gè)合適的樣品,例如一片硅單晶切片,將檢測器對準(zhǔn)其衍射位置,然后將管流自最低檔(例如5mA)開始,逐步增加,作衍射強(qiáng)度對管流的關(guān)系曲線。由于入射X射線強(qiáng)度與管流成正比,因而在計(jì)數(shù)測量系統(tǒng)的線性范圍內(nèi)衍射強(qiáng)度對管流的圖應(yīng)為直線;偏離直線即存在計(jì)數(shù)損失,需要進(jìn)行校正。應(yīng)用管流法制作計(jì)數(shù)損失的校正曲線,需要一只精度較高的毫安表來測量射線管的電流。




6.4.3 X射線強(qiáng)度測值不確定度的統(tǒng)計(jì)漲落分量

1. 射線計(jì)數(shù)的統(tǒng)計(jì)漲落

由于X射線量子的發(fā)射在時(shí)間上是隨機(jī)的,所以在相同的時(shí)間t內(nèi),對強(qiáng)度理想“恒定”的射線進(jìn)行重復(fù)測量,也不會得到完全相同的量子數(shù)目N,這就是所謂量子計(jì)數(shù)的自然起伏即統(tǒng)計(jì)漲落[11,12]。所以對于X射線,所謂“恒定”強(qiáng)度只有統(tǒng)計(jì)平均的意義。實(shí)驗(yàn)證明,對“恒定”強(qiáng)度的射線進(jìn)行多次測量,在相同的測量時(shí)間t內(nèi),X射線計(jì)數(shù)的觀測值N服從泊松分布(Poisson distribution)。用概率論處理強(qiáng)度“恒定”、完全隨機(jī)發(fā)射的粒子序列,也得到同樣的結(jié)果。這類觀測的計(jì)數(shù)平均值和單獨(dú)一次觀測得到的計(jì)數(shù)數(shù)值可以有相當(dāng)大的差別。當(dāng)平均值較低時(shí),單獨(dú)一次的計(jì)數(shù)可以少到一個(gè)計(jì)數(shù)都沒有,也可多到平均均計(jì)數(shù)的好多倍。可是它們的出現(xiàn)次數(shù)有一個(gè)規(guī)律,就是與平均計(jì)數(shù)相近的計(jì)數(shù)出現(xiàn)的頻數(shù)比較多,而與平均計(jì)數(shù)相差較大的計(jì)數(shù)出現(xiàn)的頻數(shù)較少,圖6.6示出了一例。

圖6.6 某放射性樣品射線計(jì)算值的頻數(shù)分布(泊松分布)

(放射性計(jì)數(shù)平均值為3.5/秒)


所謂“分布”或分布函數(shù),是概率論中用來表達(dá)一個(gè)隨機(jī)變量的任一可能值出現(xiàn)的概率的函數(shù)。例如:現(xiàn)對某角度的衍射線強(qiáng)度進(jìn)行定時(shí)計(jì)數(shù)測量(即每次都用設(shè)定的一固定觀測時(shí)間對射線進(jìn)行計(jì)數(shù)測量),每次計(jì)數(shù)的結(jié)果N應(yīng)為一個(gè)隨機(jī)變量。若重復(fù)進(jìn)行多次這樣的觀測計(jì)數(shù),然后按N的數(shù)值大小順序排列并統(tǒng)計(jì)每種數(shù)值出現(xiàn)的頻數(shù)A(N)。設(shè)重復(fù)觀測的總次數(shù)為m,ΣA(N) = m,任一觀測計(jì)數(shù)值N出現(xiàn)的概率定義為P(N) = A(N) / m,此概率是N的函數(shù),又稱P(N)為N的分布函數(shù)。
泊松分布的表達(dá)式為:

 (6.17)


式中為m次觀測的平均值,泊松分布是觀測計(jì)數(shù)的平均值恒定(強(qiáng)度“恒定”)、完全隨機(jī)發(fā)射的粒子序列的觀測值分布的特征。對于泊松分布,成立如下4個(gè)關(guān)系:
1.

此式的含義是:滿足泊松分布的隨機(jī)變量的各個(gè)可能取值的概率之和等于1。這是必定成立的,它是歸一化的結(jié)果。


2.
此式是平均計(jì)數(shù)的定義式,即數(shù)學(xué)期望。


3.

此式的含義是:各觀測計(jì)數(shù)值與多次觀測的平均計(jì)數(shù)值之差的平均值恒等于零。



4.(6.18

此式的含意是偏差平方的平均值,即均方偏差的定義式。

上述4關(guān)系應(yīng)用級數(shù)公式:

x為任一有限值實(shí)數(shù))

不難證明其成立。


當(dāng)觀測得到的計(jì)算值較大時(shí)(>16)或更大時(shí),泊松分布仍是正確的,但已可以視為高斯分布(Gauss distribution)。高斯分布是對稱于N=軸線的曲線,其表達(dá)式為:

6.19


因高斯分布對稱于N=軸線,故可以對其進(jìn)行坐標(biāo)變換。令Δ = N - ,式6.19經(jīng)變換后成為:

 (6.20)


式6.20表達(dá)的分布對稱于Δ = 0的軸線,稱為正態(tài)分布。

對于泊松分布成立的4個(gè)關(guān)系,對于高斯分布同樣也成立。按照6.18式,高斯分布可以寫成:

(6.21)


應(yīng)當(dāng)指出,高斯分布與泊松分布的不同點(diǎn)在于,在泊松分布中,N僅限于整數(shù),它是離散型隨機(jī)變數(shù),這是因?yàn)槭?.17中包含有N!;對于高斯分布,N不限于整數(shù),它可以在實(shí)數(shù)軸上連續(xù)取值,即可把N看成連續(xù)型隨機(jī)變量。所以,式6.19的P(N)可理解為在N處的概率密度。這樣,P(N)就可以寫成:


這樣做更便于進(jìn)行分布概率的數(shù)值計(jì)算和解析研究。例如,計(jì)算N落在某個(gè)區(qū)間(N1 ≤ N ≤ N2)內(nèi)的概率為

(6.22)


實(shí)際使用時(shí),這一積分不直接計(jì)算,通常利用高斯分布積分表完成。經(jīng)計(jì)算知某些分布概率對應(yīng)的Δp / σ值列于表6.2中。


表6.2 正態(tài)分布情況下分布概率p與因子Δp/σ間的關(guān)系

p,%

50

68.27

90

95

95.45

99

99.73

……

Δp/σ

0.67

1

1.654

1.960

2

2.576

3

……


2. X射線強(qiáng)度測值標(biāo)準(zhǔn)不確定度的統(tǒng)計(jì)漲落分量

源于統(tǒng)計(jì)漲落(起伏)的X射線強(qiáng)度測值的不確定度分量是X射線強(qiáng)度測值的合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度的主要分量。通過前面關(guān)于射線強(qiáng)度統(tǒng)計(jì)漲落規(guī)律的分析,可以知道統(tǒng)計(jì)漲落導(dǎo)致的X射線強(qiáng)度測值的標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量uN能夠通過計(jì)算其強(qiáng)度計(jì)數(shù)測值的標(biāo)準(zhǔn)偏差σ來確定。依據(jù)6.18式知:


較大(>100)的情況下,由于漲落(-N)<< N,故可認(rèn)為


 (6.23)


6.23式說明,統(tǒng)計(jì)漲落雖然是一個(gè)隨機(jī)因素,但由它產(chǎn)生的射線強(qiáng)度計(jì)數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)偏差可以只用一次計(jì)數(shù)值的平方根即可確定;而無需通過多次(設(shè)為k次)的計(jì)數(shù)測量以得到其平均值(最佳約定值),再按貝塞爾公式(見式6.1)


進(jìn)行計(jì)算才能求出標(biāo)準(zhǔn)偏差來。

強(qiáng)度計(jì)數(shù)的相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度urel, N等于其相對標(biāo)準(zhǔn)偏差ε :

(6.24)


可見總計(jì)數(shù)越大,測量值的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差σr就越?。蝗绻?jì)數(shù)率很?。ㄉ渚€強(qiáng)度很低),又要求相對不確定度很小,那就需要很長的測量時(shí)間。例如:設(shè)某衍射線的計(jì)數(shù)率為100cps。若測量時(shí)間為1秒,強(qiáng)度計(jì)數(shù)為100數(shù),其統(tǒng)計(jì)漲落不確定度uN=1000.5=10,UN = 0.1;而若測量時(shí)間為100秒,強(qiáng)度計(jì)數(shù)為10000數(shù),其統(tǒng)計(jì)漲落不確定度u=100000.5=100,UN = 0.01??梢姰?dāng)射線強(qiáng)度低時(shí),計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)漲落將成為強(qiáng)度測值不確定度的主要來源。

計(jì)數(shù)率n = N / t,t為每次計(jì)數(shù)測量的時(shí)間,故計(jì)數(shù)率的單位為cps。統(tǒng)計(jì)漲落導(dǎo)致的計(jì)數(shù)率的標(biāo)準(zhǔn)不確定度un等于計(jì)數(shù)率測量值的標(biāo)準(zhǔn)偏差σn ,即:

 (6.25a)


計(jì)數(shù)率的相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度urel,n只與總計(jì)數(shù)有關(guān),和計(jì)數(shù)的相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度urel, N是一樣的,等于ε :

(6.25b)


若強(qiáng)度是用計(jì)數(shù)率表測量的,則式6.25中的t即計(jì)數(shù)率表的積分時(shí)間,由計(jì)數(shù)率表的時(shí)間常數(shù)RC決定,t = 2RC,故計(jì)數(shù)率表的計(jì)數(shù)率強(qiáng)度讀數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)不確定度un等于計(jì)數(shù)率測量值的標(biāo)準(zhǔn)偏差σn,按式6.25a應(yīng)有:


計(jì)數(shù)率表的計(jì)數(shù)率強(qiáng)度讀數(shù)的相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度urel,n等于計(jì)數(shù)率測量值的標(biāo)準(zhǔn)偏差σn ,按式6.25b應(yīng)有:


衍射儀獲得的衍射圖,每步獲得的強(qiáng)度計(jì)數(shù)與采數(shù)時(shí)間有關(guān)(即步進(jìn)掃描的“每步定時(shí)”或連續(xù)掃描掃描速度所決定的每步的計(jì)數(shù)時(shí)間),因而對同一樣品在其它掃描條件相同的情況下,當(dāng)選用的每步定時(shí)較長或掃描速度較慢時(shí)獲得的衍射圖曲線的起伏將比較??;較短的采數(shù)時(shí)間,將導(dǎo)致強(qiáng)度不確定度的統(tǒng)計(jì)漲落分量較大,衍射圖曲線的起伏將比較大。

根據(jù)高斯分布理論,按6.21式可以計(jì)算出個(gè)別測量值N與約定真值 之差(N - )為某一值Δp時(shí)的百分概率p,這個(gè)概率又稱為測量值的置信概率或置信度(可靠性或者說可信賴程度)。對于不同的百分概率p,令k = Δp / σ,k稱為置信因子即擴(kuò)展不確定度的包含因子,其值列表6.3中。表6.3的k值即表6.1中的Δp/σ


表6.3 正態(tài)分布情況下置信概率p與包含因子kp間的關(guān)系

p%

50

68.27

90

95

95.45

99

99.73

……

kp

0.67

1

1.654

1.960

2

2.576

3

……


于是,我們可以計(jì)算出計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)漲落產(chǎn)生的對應(yīng)于某一置信度p的擴(kuò)展標(biāo)準(zhǔn)不確定度Up:

(6.26a)


例:置信度p = 90%的擴(kuò)展相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度U90 =1.64σ

置信度p = 95%的擴(kuò)展相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度U95 =1.96σ


于是,我們可以計(jì)算出計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)漲落產(chǎn)生的對應(yīng)于某一置信度p的擴(kuò)展相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度Up,rel:

6.26b


例:置信度p = 90%的擴(kuò)展相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度U90 =1.64ε

置信度p = 95%的擴(kuò)展相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度U95 =1.96ε





6.4.4 粉末衍射強(qiáng)度實(shí)驗(yàn)測值不確定的強(qiáng)度評定

綜上所述,粉末衍射強(qiáng)度實(shí)驗(yàn)測值的不確定度基本上由兩個(gè)分量合成:來自樣品方面的因素(如采樣的代表性、粉末的粒度、透明性、制作樣品平面導(dǎo)致的晶粒取向等等)和射線強(qiáng)度統(tǒng)計(jì)漲落所導(dǎo)致的測量不確定度。當(dāng)衍射強(qiáng)度特別高(>40×103cps)時(shí)還需要考慮是否需要進(jìn)行計(jì)數(shù)損失的修正,因而可能還要計(jì)入計(jì)數(shù)損失的修正所帶來的測量不確定度。

粉末衍射強(qiáng)度實(shí)驗(yàn)測值的不確定度可按下述兩類方法之一來進(jìn)行評定。


1.多次重復(fù)測量,按統(tǒng)計(jì)方法評定(A類評定)

衍射強(qiáng)度實(shí)驗(yàn)測值的不確定度u可用統(tǒng)計(jì)方法(貝塞爾法)進(jìn)行評定,即用強(qiáng)度實(shí)驗(yàn)測值的標(biāo)準(zhǔn)偏差σ表示:u = σ。在給定的儀器條件下、在同一次儀器工作時(shí)間內(nèi),對平行制作n個(gè)上機(jī)用的測試片進(jìn)行測量,得到待測衍射峰的n個(gè)衍射強(qiáng)度實(shí)驗(yàn)測值Ik,然后按貝塞爾公式計(jì)算衍射強(qiáng)度的實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)偏差s :

然而s是有限的n個(gè)測值的實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)偏差,Ik的均值只有當(dāng)測值的個(gè)數(shù)→∞時(shí)才能視為真值,因此s只是衍射強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)偏差σ的一個(gè)估計(jì)值。前已指出(6.1.3節(jié))σ / s近似為。一般平行制作3個(gè)測試片進(jìn)行平行測量,這時(shí)σ = 0.5 × s



2.B類評定方法

X射線強(qiáng)度測量誤差的主要來源如6.4.1節(jié)所指出的有7個(gè),其中3個(gè),即取樣的代表性、粉末的顆粒度和制片操作導(dǎo)致的晶粒取向,均與樣品片的準(zhǔn)備環(huán)節(jié)有關(guān)。如果X射線強(qiáng)度在衍射儀強(qiáng)度測量系統(tǒng)的測量線性范圍內(nèi),則強(qiáng)度實(shí)驗(yàn)測值可以不考慮計(jì)數(shù)損失的修正,因此,強(qiáng)度實(shí)驗(yàn)測值的不確定度u可視為由兩個(gè)分量合成:由樣品準(zhǔn)備環(huán)節(jié)導(dǎo)致的分量us以及X射線強(qiáng)度的統(tǒng)計(jì)漲落導(dǎo)致的分量uN ,即


                                                          u2 = us2 + uN2       6.27


設(shè)X射線衍射強(qiáng)度測值為N,依據(jù)6.18式知:


us對每一種規(guī)范的制樣操作所導(dǎo)致的某物相的衍射強(qiáng)度測值的不確定度,應(yīng)該是相近的。于是我們可以對一些基本的制樣操作用統(tǒng)計(jì)方法評定其可能導(dǎo)致的相對不確定度Urel,s ,用來評估使用此制樣操作所導(dǎo)致的某強(qiáng)度測值Ni的us分量:us = Ni × Urel,s

us可用衍射強(qiáng)度的實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)偏差表示。為評定某規(guī)范的制樣操作所導(dǎo)致的us,可以用某一典型樣品用此制樣操作平行制作10片上機(jī)片,在重復(fù)的儀器條件下測定各樣品片中所關(guān)注物相的衍射強(qiáng)度。強(qiáng)度的測量時(shí)間應(yīng)該足夠長,應(yīng)能使強(qiáng)度測值大于1000000計(jì)數(shù)。然后按貝塞爾公式計(jì)算各物相衍射強(qiáng)度的實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)偏差。由于強(qiáng)度測值足夠大,強(qiáng)度測值的實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)偏差可以視為us 。例如,若強(qiáng)度測值為1000000計(jì)數(shù)時(shí),uN=100,忽略uN,則強(qiáng)度測值的實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)偏差u ≈ us 。

于是,可以評定該規(guī)范的制樣操作所導(dǎo)致的某物相衍射強(qiáng)度的相對不確定度urel,s :

式中 為各平行樣品片中該物相的衍射強(qiáng)度的均值。





6.4.5 粉末衍射強(qiáng)度數(shù)據(jù)運(yùn)算中標(biāo)準(zhǔn)不確定度的傳遞

通過數(shù)據(jù)處理求取衍射峰強(qiáng)度,扣除背景強(qiáng)度是必不可少的一步,即某衍射峰的“凈”峰強(qiáng)度計(jì)數(shù)NPk是其總觀測強(qiáng)度計(jì)數(shù)NT與相應(yīng)的背景強(qiáng)度計(jì)數(shù)NB之差,NPk = NT - NB 。在衍射分析中,為計(jì)算樣品中某一物相的含量,常需涉及用多個(gè)衍射峰的強(qiáng)度數(shù)據(jù)進(jìn)行運(yùn)算,才能得到所需的分析結(jié)果。這些運(yùn)算結(jié)果的不確定度需按照不確定度傳播律來計(jì)算(參閱6.1.4.3節(jié))。

下面列出常見的強(qiáng)度運(yùn)算結(jié)果的擴(kuò)展不確定度計(jì)算公式(對于不同的百分概率p的置信因子k,即擴(kuò)展不確定度的包含因子,其值已列表6.2中):

1.兩強(qiáng)度計(jì)數(shù)N1與N2的和或差N,N = N1 ± N2,其擴(kuò)展標(biāo)準(zhǔn)不確定度Up(N)的合成(p為置信度):

按不確定度傳播律,變量的和或差的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u等于參與運(yùn)算的每個(gè)變量的標(biāo)準(zhǔn)偏差的平方和的平方根(簡稱方和根):


k為對應(yīng)p的包容因子,下同。所以,兩強(qiáng)度計(jì)數(shù)N1與N2的和或差N,N = N1 ± N2,其擴(kuò)展相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度Urel,p(N)為

 6.28


故衍射峰的“凈”強(qiáng)度計(jì)數(shù)Npk,Npk = NT - NB (腳標(biāo)T和B分別表示峰的總強(qiáng)度和背景),的擴(kuò)展相對不確定度Urel,p(NPk)等于:

   6.29



2.兩個(gè)強(qiáng)度計(jì)數(shù)N1、N2之積或之比的擴(kuò)展相對不確定度Urel,p (N1 ,N2)的合成(p為置信度):
按不確定度傳播律,變量的積或商的相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度Urel等于參與運(yùn)算的每個(gè)變量的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差εi的方和根:


故N1、N2之積N1 ˙ N2及其之比N1 / N2的擴(kuò)展相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度均為:


故N1、N2之積N1 ˙ N2及其之比N1 / N2的擴(kuò)展不確定度分別為:

   6.30


衍射圖上衍射峰的相對強(qiáng)度為各衍射峰的強(qiáng)度Ni與最強(qiáng)峰的強(qiáng)度Nmax之比值。故衍射峰i的相對強(qiáng)度Ii,Ii = Ni / Nmax,的擴(kuò)展標(biāo)準(zhǔn)相對不確定度為:



3. 兩計(jì)數(shù)率強(qiáng)度n1與n2的和或差n,n = n1 ± n2,其擴(kuò)展標(biāo)準(zhǔn)不確定度Up(n)的合成(p為置信度):

如前指出,計(jì)數(shù)率n = N / t,t為每采數(shù)步的計(jì)數(shù)測量的時(shí)間,計(jì)數(shù)率的單位為cps。統(tǒng)計(jì)漲落導(dǎo)致的計(jì)數(shù)率強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)不確定度(式6.25a)為:


故兩計(jì)數(shù)率強(qiáng)度n1與n2的和或差n的擴(kuò)展標(biāo)準(zhǔn)不確定度Up(n)為:

 6.31



4.兩計(jì)數(shù)率強(qiáng)度n1與n2之比n1/n2的擴(kuò)展相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度Urel,p(n1/n2)合成(p為置信度)

統(tǒng)計(jì)漲落導(dǎo)致的計(jì)數(shù)率強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)相對不確定度Urel,n為:

6.32





6.5  粉末X射線衍射圖譜數(shù)據(jù)的品質(zhì)指數(shù)

粉末衍射數(shù)據(jù)的質(zhì)量如何評價(jià)?對于單項(xiàng)的測量數(shù)據(jù),如衍射峰的位置(角度)、強(qiáng)度或峰寬度,其相應(yīng)的測量不確定度是公認(rèn)的評價(jià)依據(jù)。而對于作為一種物相“指紋”用的或用于對其晶體結(jié)構(gòu)進(jìn)行研究的一套粉末衍射數(shù)據(jù),則需要一種綜合的,直觀的評價(jià)指標(biāo)。這時(shí),常常需要考慮三方面的問題:

1. 衍射峰位置的準(zhǔn)確度如何?

2. 衍射圖的完整性如何?有無遺漏的衍射峰?

3. 衍射強(qiáng)度的正確性如何?

ICDD對收入其粉末衍射數(shù)據(jù)庫的衍射圖譜數(shù)據(jù)有一個(gè)量化的的品質(zhì)指數(shù)——FOM(Figure of merit),用此指數(shù)表明晶面間距數(shù)據(jù)的完整性和準(zhǔn)確性。FOM的符號為FN,其的定義如下:

  (6.33


式中為觀測值與計(jì)算值的平均偏差,N為觀測到的衍射線數(shù)目,N可能為在觀測到的第N條獨(dú)立的衍射線的范圍內(nèi)可能有的衍射線的數(shù)目。ICDD建議,如果某物相的衍射線很多,計(jì)算FOM時(shí)取N = 30;如果可觀察到的衍射線數(shù)少于30,則N取總線數(shù)。FOM可以量化地表達(dá)某物相的一套衍射數(shù)據(jù)的衍射角的準(zhǔn)確性以及其完整性——是否該物相的所有的衍射線都觀測到了。

由FOM的定義式(6.33)可見FN的單位為倒易度。FN為100時(shí)意味著2θ的平均偏差≤ 0.01°,而FN為50時(shí)意味著2θ的平均偏差≤ 0.02°。


在ICDD粉末衍射數(shù)據(jù)卡中FOM用全參數(shù)式表示:FN = FN(,N可能)。例如在石英的數(shù)據(jù)卡46-1045中該指數(shù)的表示式是:

F30 = 5390.0018,31


其含義為:N=30,F(xiàn)30的值為539,在30條衍射線的角度范圍內(nèi)應(yīng)該有31條衍射線,2θ的測量不確定度為0.0018°。又如,Cr3Rh的數(shù)據(jù)卡20-314只觀測到20條衍射線,而在此角度范圍內(nèi),應(yīng)該有22條衍射線, =0.009°,故其FOM表示為:

F20 = 1010.009,31

如何數(shù)N可能須作些說明:


  • 晶體對稱性關(guān)聯(lián)的一組晶面只算一個(gè)面,例如在立方晶系中100線只算是一條獨(dú)立衍射線,雖然它的衍射強(qiáng)度來自該晶體形式的6個(gè)晶面;

  • 有些形式雖然和對稱性無關(guān),但因有完全相等的晶面間距,導(dǎo)致在粉末衍射圖上只有一條衍射線。如立方晶系的333和511線。這類情況也只算是一條獨(dú)立衍射線;

  •  一些晶面間距彼此十分接近,其獨(dú)立衍射線在實(shí)驗(yàn)上將很難分辨,但計(jì)算N可能時(shí)都作為可能的獨(dú)立衍射線將使N可能增加。

在報(bào)告衍射圖獲得的晶面間距d時(shí),應(yīng)該同時(shí)列出其相應(yīng)的Δ2θ,并按Δ2θ決定d值的有效位數(shù)。Δ2θ定義為2θ的觀測值2θo與計(jì)算值2θc之差,Δ2θ = 2θo - 2θc 。


未完待續(xù)......

下一篇講解:6.6 多晶衍射儀的驗(yàn)收、性能的評估與常規(guī)檢查


END


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