IR主要指標（Bruker LUMOS）及功能特色
服務(wù)詳情
主要指標：
同軸光路，光學(xué)輔助下全自動顯微透射、反射、ATR測試，配漫反射附件。
光譜范圍：ZnSe分光系統(tǒng)7000-600 cm-1。
光譜分辨率：2 cm-1。
檢測器：DigiTectTM中帶MCT檢測器、室溫DLaTGS檢測器（漫反射）。
光學(xué)系統(tǒng)：物鏡WD 30 mm、最高32倍（光學(xué)8X），500萬像素CCD、視場1.5×1.2 mm，透反白光照明與透反偏振觀察。
自動樣品臺： 50×75 mm，精度0.1 μm，Z方向升降距離43 mm。
空間分辨率：優(yōu)于3X3 μm。
ATR（衰減全反射）：Ge晶體尺寸100 μm，自動控制帶三檔壓力保護。
數(shù)據(jù)庫：ATR及紅外數(shù)據(jù)庫（約26,000張，含行業(yè)化學(xué)品、高分子、生化品、藥物、礦物）。
功能特色：高度自動化&開放樣品臺
自動控制ATR晶體；
自動控制透明刀口光闌；
自動控制聚焦鏡，偏振組件；
自動控制紅外、可見模式切換；
自動控制紅外、可見模式數(shù)值孔徑；
自動控制樣品臺與Z方向聚焦；
電子識別樣品臺；
物鏡工作距離：30 mm；
樣品臺Z軸移動距離：43 mm；
適合大體積樣品或可調(diào)樣品架。
智能物鏡&自動ATR
可見光視場1.5×1.2 mm；
高精度、透明刀口光闌；
紅外視場125×125 μm到5×5 μm；
自動操作的ATR鏡頭；
晶體材質(zhì)：Ge；
晶體尺寸：100 μm；
ATR視場30×30 μm到1.3×1.3 μm
ATR測量3檔壓力可選，保證緊密接觸樣品。
壓力傳感器位于晶體桿正上方，可以有效感應(yīng)樣品壓力。
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