包裹體分析
服務(wù)詳情
位于巖石/礦物內(nèi)部，無(wú)法使用表面分析技術(shù)（SEM、EDS、EMPA等）或透過(guò)分析技術(shù)（TEM、IR等）。
尺寸微小，無(wú)法使用宏觀分析技術(shù)（XRD、XRF等）。
無(wú)法使用有損分析（LA-ICP、SIMS、SHRIMP等）。
顯微拉曼幾乎是適用于微小氣液包裹體與固溶體無(wú)損分析的唯一方法。
——基于光學(xué)系統(tǒng)下的可見(jiàn)即可測(cè)
——基于光學(xué)分辨極限的空間分辨能力
包裹體分析——巖石薄片
包裹體分析——鋯石靶
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