掃描電鏡分析-SEM
服務(wù)詳情
掃描電鏡是一種多功能的儀器，具有制樣簡(jiǎn)單、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點(diǎn)。數(shù)十年來(lái)，掃描電鏡已廣泛地應(yīng)用在生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、冶金學(xué)等學(xué)科的領(lǐng)域中。它可以觀察納米粒子的形貌、在基體中的分散情況以及粒徑的測(cè)量、材料斷口分析、鍍層表面形貌分析和深度檢測(cè)、微區(qū)化學(xué)成分分析及顯微組織及超微尺寸材料的研究等分析應(yīng)用。
送樣要求：
1.固體或者粉末1*1cm；
2.樣品必須干燥、無(wú)油，樣品表面必須帶電。
3.請(qǐng)注明樣品保存條件（常規(guī)、干燥、冷凍、冷藏、避光或其他）
項(xiàng)目介紹
所用儀器：場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：JY/T 010-1996
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則
實(shí)驗(yàn)室信息3
聯(lián)系電話：010-62423361 / 010-62423562
Email：4000064028@labpku.com
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