掃描電鏡（SEM）
服務(wù)詳情
掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀
掃描電子顯微鏡
察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)是，①有較高的放大倍數(shù)，2-20萬(wàn)倍之間連續(xù)可調(diào)；②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)；③試樣制備簡(jiǎn)單。 目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時(shí)進(jìn)行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析，因此它是當(dāng)今十分有用的科學(xué)研究?jī)x器。
項(xiàng)目介紹
所用儀器：場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：JY/T 010-1996
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則
實(shí)驗(yàn)室信息3
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