X射線光電子能譜儀(XPS)分析測試
服務(wù)詳情
X-射線光電子能譜(XPS)可以定性檢測元素周期表中除H和He以外的幾乎所有元素，可以提供有關(guān)固體表面和界面的化學(xué)信息（元素種類、相對含量及價態(tài)信息）。此外，通過角分辨法及Ar離子剝離法可以提供元素深度分布信息，主要用于固體樣品表面的組成、化學(xué)狀態(tài)分析。能進(jìn)行定性、半定量及價態(tài)分析。廣泛應(yīng)用于聚合物、無機(jī)化合物、有機(jī)化合物、催化劑、涂層材料、納米材料、礦石等各種材料的研究，以及腐蝕、摩擦、潤滑、燃燒、粘接、催化、包覆、氧化等過程的研究。
送樣要求：
1. 固體樣品面積≤1.0cm2（<8*8mm）, 高（厚）度≤1.0mm，厚度6mm，有平面。X光打樣深度：1-10nm。
2. 粉末固體樣品10-100mg
3. 樣品要求真空干燥，不含腐蝕性、易揮發(fā)、磁性及放射性物質(zhì)
4. 請注明樣品保存條件（常規(guī)、干燥、冷凍、冷藏、避光或其他）
5. XPS可以對H、He外的其它元素進(jìn)行定性、半定量和化學(xué)態(tài)分析，檢出限是原子百分含量在0.1-1%以上，不同元素檢出限不同。
6. 一次可分析所有元素
項(xiàng)目介紹
所用儀器：X射線光電子能譜
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)號：JY/T 013-1996
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)號：JY/T 013-1996 電子能譜儀方法通則
實(shí)驗(yàn)室信息3
聯(lián)系電話：010-62423361 / 010-62423562
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