納米材料晶粒大小測(cè)定
服務(wù)詳情
本項(xiàng)目適用于無(wú)應(yīng)力應(yīng)變的納米粉體
當(dāng)樣品晶粒小于100nm或發(fā)生了晶格畸變時(shí)，樣品的衍射峰就會(huì)發(fā)生寬化，可以通過(guò)謝樂(lè)公式來(lái)表征粒度與寬化之間的關(guān)系。
送樣要求：
1. 用樣量：2-5g
2.適用范圍：1-100nm，30nm左右最準(zhǔn)確
項(xiàng)目介紹
所用儀器：X射線衍射儀
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：JY/T 009-1996
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：JY/T 009-1996 轉(zhuǎn)靶多晶體x射線衍射方法通則
實(shí)驗(yàn)室信息
聯(lián)系電話：010-62423361 / 010-62423562
Email：4000064028@labpku.com
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