XRD掃圖
服務(wù)詳情
XRD 即X-ray diffraction 的縮寫，中文翻譯是X射線衍射，通過對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。用于確定晶體的原子和分子結(jié)構(gòu)。其中晶體結(jié)構(gòu)導(dǎo)致入射X射線束衍射到許多特定方向。 通過測(cè)量這些衍射光束的角度和強(qiáng)度，晶體學(xué)家可以產(chǎn)生晶體內(nèi)電子密度的三維圖像。 根據(jù)該電子密度，可以確定晶體中原子的平均位置，以及它們的化學(xué)鍵和各種其他信息。
項(xiàng)目介紹
所用儀器：X射線衍射儀
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：JY/T 009-1996
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：JY/T 009-1996 轉(zhuǎn)靶多晶體x射線衍射方法通則
實(shí)驗(yàn)室信息
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