俄歇電子能譜 AES
服務詳情
俄歇電子能譜（Auger electron spectroscopy，簡稱AES），是一種表面科學和材料科學的分析技術。因此技術主要借由俄歇效應進行分析而命名之。這種效應系產(chǎn)生于受激發(fā)的原子的外層電子跳至低能階所放出的能量被其他外層電子吸收而使后者逃脫離開原子，這一連串事件稱為俄歇效應，而逃脫出來的電子稱為俄歇電子。1953年，俄歇電子能譜逐漸開始被實際應用于鑒定樣品表面的化學性質(zhì)及組成的分析。其特點在俄歇電子來自淺層表面，僅帶出表面的資訊，并且其能譜的能量位置固定，容易分析。
項目介紹
所用儀器：掃描俄歇電子能譜儀
依據(jù)標準號：JY/T 013-1996
依據(jù)標準號：JY/T 013-1996 電子能譜儀方法通則
實驗室信息3
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